SmartSpice200
アナログ回路シミュレータ(フル機能搭載/50素子限定版)
SmartSpice200では、回路規模の制限を除き、業界標準のアナログ回路シミュレータのSmartSpiceと同じ機能をすべて使用できます。最大10個のトランジスタおよび/または合計で最大50個の回路素子に制限されたSmartSpice200は、教育、学習目的の利用や小規模回路の設計に最適です。SmartSpice200は、Gateway、Gateway200と組み合わせて使用できます。
SmartSpice200は、製品評価、教育、トレーニングなどの用途に適しており、使いやすく高速な、Verilog-AベースのSPICEモデル開発環境を提供します。商用アナログ回路シミュレータとして初めて搭載されたインタラクティ
ブな回路ラバーバンド機能を使用して、アナログ回路の設計とビジュアル化を簡単に実行できます。
主な特徴
- ネットリスト、モデル、解析機能、解析結果について、HSPICEおよびSPECTREとの互換性を提供
- クリティカルなアナログ設計に最適な、極めて精度の高いシミュレーション
- 複数のソルバとステッピング・アルゴリズムにより、安定した収束性を実現
- 業界最大規模のキャリブレーション済みSPICEモデル群は、バイポーラやCMOSなどの従来のテクノロジのほか、TFT、SOI、HBT、FRAMなどの先進のテクノロジもいち早くサポート
業界最高精度
ナノメータ効果対応アナログ回路シミュレーション
- 効率的な行列解法(Berkeley 3C1ソルバ・ベース)においてガウスの消去法を利用
- 充実したソルバ・ライブラリ(直接法3種類+反復法2種類)で線形方程式の解法を拡張
- 物理ベースのBerkeleyモデル・パラメータを実行中に検証し、連続性、線形性、および有効なパラメータ範囲を確保
- 抽出例の少ないファウンドリ・モデルの不整合部分を検出し、最終製品における精度や性能の低下を防止
- アナログ/ミックスド・シグナルのプロセス精度を重視するファウンドリにとって最適なシミュレータ
- シミュレーション・スピードと精度のトレード・オフをコントロールできる豊富なオプションを提供
優れた収束性
最適なソルバ選択で実現
- 初期状態を調べ、一連のメソッドやアルゴリズムにしたがって反復処理を行うことにより、最適な収束を達成
- 複数のソルバの中から、与えられた回路トポロジに最適なソルバを選択可能
高度な解析機能
解析オプションをユーザ定義可能
- Stop/Continueアルゴリズム(過渡解析向け)
- ネスト・パラメータ解析
- ネットリスト内の名前をスコープ
- 次に実行するパラメータ・ステップに直接行列アクセスを行い、セル・キャラクタライゼーションを迅速に実行
- サブサーキット・レベルでも高度な最適化を実行
- .RADステートメントとファウンドリ提供のコンパクト・モデルを使用したSEE (シングル・イベント効果)解析
- .MODELパラメータ用の数式エディタを使用して、65ナノメータ以下の微細設計をサポート
スムーズな導入
既存の設計環境へ容易に適合
- ファウンドリ提供のSmartSpice200、HSPICE、およびSPECTREモデルをサポート
- HSPICE、Cadence社PSpice、およびBerkeley SPICEのネットリストに対応
- OASISインタフェースを介し、Cadence社のアナログ・デザイン環境をシームレスに統合
- PDKベース・アナログ/ミックスド・シグナル/RFツール・フローを包括的に統合
モデル開発能力
- 長年に渡るUTMOST SPICEパラメータ抽出ツールの実績にもとづく、業界屈指のSPICEモデリング、データ収集、モデル・パラメータ抽出技術
- Verilog-Aモデルにより、Accellera標準の電気- 温度モデル、センサー・モデル、およびその他の複合物理効果を素早く組み込み可能
- シルバコでは、全温度範囲やコーナーモデルについて統計的な解析を実施し、DC、AC、Sパラメータ、容量、温度、ノイズなどの特性やSPICEパラメータを抽出する、高精度で短納期のSPICEモデリング・サービスを提供
利用可能なモデル
| BJT/HBT: |
Gummel-Poon, Quasi-RC, VBIC, MEXTRAM, MODELLA, HiCUM |
| MOSFET: |
LEVEL 1, LEVEL 2, LEVEL 3, BSIM1, BSIM3, BSIM4, MOS 20, EKV,
HiSIM, PSP, LEVEL 88, HiSIM HV |
| TFT: |
LEVEl 35, LEVEL 36 |
| SOI: |
Berkeley BSIM3SOI PD/DD/FD, LETISOI |
| MESFET: |
Stats, Curtice I & II, TriQuint |
| JFET: |
LEVEL 1, LEVEL 2 |
| Diode: |
Berkeley, Fowler-Nordheim, Philips JUNCAP/Level 500 |
| FRAM: |
Ramtron FCAP |
過渡ノイズ解析: 異なる2つの回路ノードにおける電圧とノイズの波形
入力
- Berkeley SPICEネットリスト
- HSPICEおよびSPECTREネットリスト
- WエレメントRLGCマトリクス・ファイル
- Sパラメータ・モデル
- Verilog-A
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出力
- rawファイル、出力リスト
- 解析結果
- 測定データ
- Unix/Linux/Windowsプラットフォーム互換
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内蔵の最適化機能:
デバイス・パラメータやモデル・パラメータの値を少しずつ変化させながら反復計算し、
目標とする基準値(DC特性、AC特性、過渡特性、伝播遅延、立上り/立下り時間、電力消費など)を達成します。
サブサーキットの最適化も実行できます。 |
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SmartView:
時間、電圧、電流、立上り時間、傾きなどを測定し、テキスト・ラベルつきのプロットやグラフを作成します。
ベクタ・カルキュレータやアイ・ダイアグラム機能も搭載しています。
SmartSpice200だけでなく、HSPICEのシミュレーション結果を表示することもできます。 |
2012年5月1日現在
Rev.043012_04