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DRC/LVS/NET物理検証ツール

Guardianは、アナログ/ミックスド・シグナル/RF IC向けの物理検証ツールです。インタラクティブな検証とバッチ検証に対応しています。スケマティック・エディタおよびレイアウト・エディタと連携し、DRC (デザイン・ルール・チェック)、LVS (レイアウト対スケマティック)を効率的に実行できます。

主な特徴

  • 64ビットLinuxアーキテクチャ向けに最適化
  • Expertレイアウト・エディタやGatewayスケマティック・エディタとのシームレスな統合により、回路図入力からレイアウト検証までの統合アナログ/ミックスド・シグナル/RF設計フローを実現
  • DraculaおよびDivaから変換されたDRC/LVS/NETルール・ファイルをサポート
  • ファウンドリで検証済みのプロセス・デザイン・キット(PDK)を通して、広範な半導体プロセス・テクノロジをサポート
  • レイアウト-スケマティック表示間のクロスプロービングにより、素早く直感的な階層LVSデバッグを実現
  • Guardian NETのパラメータ抽出は、応力効果およびウェル近接効果をサポート
  • お客様とサード・パーティ企業の大切な知的財産を守る、シルバコの強力な暗号化技術を利用可能

Guardian DRCの主な機能

スムーズな導入と優れた操作性

  • DraculaおよびDivaからのランセットをインポートするルール・ファイル変換により、導入が容易
  • シンプルなインストール手順により、ユーザ自身で環境をセットアップ可能
  • 視覚情報と文字情報による分かりやすいDRCエラー・レポートは、新規ユーザにも熟練ユーザにも直感的に理解可能

生産性と汎用性

  • あらゆる設計環境に対応する充実したDRCコマンド・セット(インタラクティブに実行する局所的なDRC、バッチ・モードで実行するフルチップDRC)
  • 効率的なメモリ管理と先進のアルゴリズムによってレイヤ操作を最適化し、Windows、Linux、Solarisの性能を最大限に活用
  • 接続性ベースのDRC機能(アンテナ・ルール・チェック機能など)
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高い生産性　–　Expertレイアウト・エディタの画面上で、
DRCエラーを視覚的に表示。直感的にデバッグできます。

抜群の精度、速度、キャパシティ

  • 90°、45°および任意の角度のオブジェクトをサポート(アナログ/ミックスド・シグナルのデザインで特に重要な精度における妥協なし)
  • インタラクティブDRCは、Expertレイアウト・エディタ上で局所的DRCを高速実行し、チップレベルと同じエラー・データベースにエラーを保存
  • 階層型のDRCレポート・データベースで、DRC実行履歴を管理
  • 階層型のDRCエラー・レポート機能による、レイアウト・デバッグ効率の向上
  • マルチスレッドDRCによるパフォーマンスとキャパシティの飛躍的な向上

Guardian LVS/NETの主な機能

スムーズな導入と優れた操作性

  • 直感的にわかりやすい階層LVSエラー・レポートで、デバッグ時間を大幅に短縮
  • Gatewayスケマティック・エディタとExpertレイアウト・エディタ間でデータベースを直接リンクすることで、グラフィカルなエラー･レポートとしてクロスプロービングを実行
  • サブサーキット用ブラックボックス・オプションにより、階層モードでのインクリメンタルLVS比較と、最上位レベルの検証済みデザインへのIPブロックの容易なインクルードを実現

抜群の精度、速度、キャパシティ

  • アナログ設計で重要なジオメトリ依存SPICEパラメータを、デフォルトまたはユーザ定義の方程式を使用して高精度に計算
  • LVSトレース中、汎用デバイス(トランジスタ、ダイオード、抵抗、キャパシタなど)、ユーザ定義デバイス、ブラックボックス・サブサーキットを正確に識別
  • あらゆる半導体プロセスに対して抜群のパフォーマンスを誇る、効率的なフルチップ・レイアウト・ネットリスト抽出
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クロスプロービング　–　インタラクティブな階層クロスプロービングで、LVS違反をわかりやすく表示します。

高い生産性と汎用性

  • 階層デザイン・データベースは、フラット/階層LVSネットリスト比較に対応
  • デバイスの設計で使用される、任意のポリゴン形状に対応
  • オリジナルの階層構造を最大限に保持することにより、ポスト・レイアウト回路シミュレーション時のデバッグが容易
  • スケマティック・ネットリスト、抽出したレイアウト・ネットリスト、および物理レイアウト間の階層クロスプロービング
  • 便利なフィルタ・オプションを備えたERC違反(ショート、オープン、未接続のデバイス、および接続が不正なデバイス)の検出機能
  • MOSFET、BJT、JFET、MESFET、ダイオード、抵抗、キャパシタ、およびユーザ定義のパラメタライズド・デバイスをサポート
  • 階層LVS実行では、マルチスレッド処理が可能
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ネット・トレーシング
レイアウト、スケマティック間で、ネットやデバイスを追跡できます。


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2010年10月21日現在
Rev.101410_26