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VarManを使用したスタンダード・セルの統計的キャラクタライゼーション

配信開始日: 2018年3月1日

半導体の新しいプロセス・ノードにおけるプロセスばらつきは、グローバル、ローカルを問わず、スタンダード・セル・ライブラリのパフォーマンスを左右する重要な要素になっています。電源と温度変動を組み合わせた場合、従来手法での3シグマ・プロセス・コーナーの検出、または6シグマ検証の実行は、膨大な数のシミュレーションを必要とするため、非現実的になって来ています。本ウェビナーではシルバコのVarManで、どのようにしてこの問題を解決するかをご説明します。VarManツールには、Fast Monte Carlo、Variability eXplorer、high-sigma Yield Estimation、high-sigma Performance Limit、そしてLibrary VarManが含まれています。これらのユニークなツールは、スタンダード・セル・ライブラリのキャラクタライゼーションや品質保証に必要となるシミュレーションの数を大幅に減らしながらも、高い精度を維持することで、ばらつきを加味した設計およびキャラクタライゼーションを可能にします。

概要:

  • スタンダード・セルの統計的キャラクタライゼーションの主要な課題
    • 多数のプロセス・コーナー
    • ワーストケース条件を検出する難しさ
    • ハイ・シグマ検証に必要となる膨大なシミュレーション
    • ローカル・ミスマッチによる状況の複雑化
  • スタンダード・セルの統計的キャラクタライゼーションに関連する統計の概要
  • スタンダード・セル・ライブラリ・キャラクタライゼーションに使用されるVarManのアプリケーション
    • Fast Monte Carlo
    • Variability eXplorer
    • High-sigma performance limit and yield analysis
    • Library VarMan

プレゼンタ:

Prashant Singh博士はシルバコのApplications Engineerです。Massachusetts Institute of Technologyで物理学と電気工学の学位を取得して卒業後、General Electricに勤務しEdison Engineering Programを終了、Rensselaer Polytechnic Instituteで電気工学の学位と博士号を取得しました。博士課程終了後、Singh博士はLucent Technologiesで高速オプトエレクトロニクス・コンポーネントを、LSI Corporation、Qlogic、Koolchip、Invecasで高速シリアル・インタフェースを開発しました。Singh博士は現在、シルバコで、回路検証および品質保証を専門としています。


対象:

スタンダード・セル・ライブラリ・キャラクタライゼーションでの効率と精度向上のソリューションを求める設計・検証技術者およびマネージャ