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VarManによるメモリの統計的キャラクタライゼーション・ソリューション

配信開始日: 2018年9月25日

新しい半導体のプロセス・ノードにおけるばらつきはグローバル、ローカルを問わず、メモリ・パフォーマンスを左右するますます重要な要素になっています。電源と温度ばらつきを組み合わせた場合、従来の手法で6シグマ以上の検証を行うと、必要になるシミュレーションの数は膨大になるため、非現実的なものになっています。近年、妥当な時間で終了する高精度の7シグマ検証が本当に必要になってきました。本ウェビナーでは、シルバコのVarManでこれらの問題を解決する方法を説明します。VarManには、Variability eXplorer、high-sigma Yield Estimation、high-sigma Performance Limit、eXtreme Memory Analysisを含むツールのパッケージソフトが含まれます。これらのユニークなツールは、メモリのキャラクタライゼーションと品質保証に必要なシミュレーション回数を大幅に減らしながらも、高い精度を維持することで、ばらつきを加味した設計およびキャラクタライゼーションを可能にします。

概要:

  • メモリの統計的キャラクタライゼーションの主要課題
    • 解析時の膨大な数のプロセス・コーナー、および複数の電圧
    • 新テクノロジおよびアドバンスド・ノードにより大幅に増大した感度、ローカル・ミスマッチにより複雑化した状況
    • ハイ・シグマ検証に必要となる膨大な数のシミュレーション
    • 依然として基本的に必要となるメモリ全体の解析
    • ハイ・シグマの結果に対する信頼性
  • メモリの統計的キャラクタライゼーションに関する統計の概要
  • メモリのキャラクタライゼーションを行うVarManアプリケーション
    • Variability eXplorer
    • High-sigma performance limit and yield analysis
    • eXtreme Memory Analysis

プレゼンタ:

Jean Baptiste Duluc博士は、シルバコでVarMan製品の開発を担当するcore-competency Application Engineerです。Utmostのキャラクタライゼーション、およびモデリング・ソフトウェアのSupport Engineerとして、1999年にシルバコに入社しました。その後はResearch Centerで、新世代のキャラクタライゼーションおよびモデリング・アプリケーションUtmost IV、統計的モデル生成ツールSpaynのプロジェクトを主導しています。大学院では、集積回路の性能指数に与えるプロセスばらつきの影響に注力して取り組んでいました。
Duluc博士は、フランスのUniversity of Bordeauxでマイクロエレクトロニクスの修士号と博士号を取得しています。


対象:

メモリの統計的キャラクタライゼーションの効率と精度を向上させるソリューションを模索している設計および検証エンジニア、マネージャ