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Variation Managerを使用したアナログ・デザインの統計解析フロー

配信開始日: 2016年11月14日 先端ノードテクノロジにおいてアナログ・デザインのばらつきの影響は重大なものとなりました。統計解析に使用される従来のモンテカルロ手法は限界に達し、パフォーマンス面においてアナログ設計者の要望に応えることができなくなりました。

SILVACOのVariation Managerは、アナログ設計に特化した統計解析を含んでいます。革新的なモンテカルロ・ブースタを組み込むことで、アナログ・セルおよびAMS/RF ICの高速な解析を実現しました。従来のモンテカルロよりも高速なVariation Managerは、設計期間内にばらつきの問題を解決することを可能にします。


概要:

  • アナログ・デザインのための統計解析
  • モンテカルロの実例、効率的に活用し、リスクを最小限に抑えるには?
  • アナログ・デザインにおけるばらつきの課題

プレゼンタ:

David Cartalade博士は、フロント・エンド・ツール強化を目的とした2016年のEDXACT買収に伴いシルバコに入社しました。RFデザインやSPICE、高速SPICE、RFシミュレータといったアナログ・ツール・サポートに深い見識を持っています。

フランスのInstitut Polytechnique de GrenobleでRF ASIC設計の理学博士号を取得しています。